アスター　[ASTAR]

greeenline3 

 

 

自動方位マッピング

 

 

 

 
nano_digistar 

　● 透過電子顕微鏡でEBSDと同様なことができる
　● 高分解能の方位マップが作成できる

　　（方位精度 1°以下、空間分解能 5nm以下の優れた結果が得られる）
　● 金属やセラミックス、半導体などの回折する物質に結晶系問わず直接使用できる
　　　さらに、結晶の表面処理が必要ないので、TEMの試料をそのまま分析できる
　● 外部カメラが用意してあるので、簡単かつ高速にデータが得られる
　　　例） 5x5μm、400x400 ピクセルのマップが5分で取得できる
　● プリセッションと走査が同時にできるため、精密な方位と位相マップが正確に得られる
　● 各社100～300kVの顕微鏡に簡単に取付けできる
 

 nanom_astar_650

　ASTAR=Automatic phase and orientation mapping for TEM 
 
　■　サンプル画像
　　　白金ナノ粒子  

　　TRIP綱

 nano_nanoryusi

 big_h20pix

  

 nano_trip

big_h20pix
 
　■　資料　（英語）　pdf_logo1
 　→プレゼン資料.pdf（3.56MB）  
  
　■　カタログ　（日本語）　pdf_logo1
 　→総合カタログ.pdf
 　→アスターカタログ.pdf
 
　■　関連製品ページ
　透過電子顕微鏡用　CCD / CMOSカメラ   　電子顕微鏡用　画像処理ソフトウェア
　→　透過電子顕微鏡用カメラトップページへ    →　電子顕微鏡画像処理ソフトトップページへ
     

 

jisen

 

 ●旧サイト

→NanoMEGAS社　トップページへ

 

 

製品に関してのお問い合わせ
弊社では、各製品のカタログや資料をご用意しております。
デモ機在庫の有る製品も御座いますので、不明な点や価格的なご質問と共にお問い合わせよりご連絡下さい。
現在お客様の方で考えられているご使用目的、必要スペック、PC環境等を合わせてご連絡頂ければ該当する商品担当者よりご提案させて頂きます。 (お探しの商品が見付からない場合はお気軽にお問い合わせ下さい。)