<用 途>
・近赤外イメージング(シリコンウェハー検査など)
・近赤外イメージング(シリコンウェハー検査など)
・近赤外ハイパースペクトルイメージング
・近赤外分光(食品の水分分析、繊維のWeb検査など)
・レーザービームプロファイル
・熱画像、非接触温度計測(産業プロセス監視など)
・視覚増強(自動車、航空機など)
・半導体、太陽電池パネル、インゴットの検査
・美術品検査
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Xeva-1.7-320シリーズ
Xeva-1.7-320 シリーズは0.9-1.7μmに感度のあるXenics社InGaAs冷却近赤外線カメラ(320×256画素)です。
| ●優れた冷却機能を持ちます。ペルチェ冷却(TE1/TE3)+強制空冷 (TE1: <263K / TE3: <223K) ●検出波長領域:0.9~1.7μm。可視近赤モデルは0.4~1.7μm ●Pixel operability >99% (画素欠陥率 <1%) |
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