Xeva-1.7-640 シリーズ

xenics_xeva1201_200
＜用　途＞　
・近赤外イメージング（シリコンウェハー検査など）
・近赤外ハイパースペクトルイメージング
・近赤外分光（食品の水分分析、繊維のWeb検査など）
・レーザービームプロファイル
・熱画像、非接触温度計測（産業プロセス監視など）
・視覚増強（自動車、航空機など）
・半導体、太陽電池パネル、インゴットの検査
・美術品検査

xenics_image008 

 

  

 

 Xeva-1.7-640シリーズ共通仕様

 0.9-1.7μm / 冷却タイプ / 640x512画素 / InGaAs
  センサー仕様  
  素子 InGaAs
  波長領域 0.9-1.7μm
  画素数 640x512
  センサーピッチ

20μm
   カメラ仕様  
   マウント  Cマウント
   トリガー  TTLレベル
   ソフトウェア  スタンドアローンソフトウェア
   操作環境温度  0℃～50℃
   寸法  90(L) x 110 (W) x110(H)
   カメラヘッド重量  約1.8kg

                                                                                                    

 

 

 

 Xeva-CL-1.7-640 (25Hz)
 最大fps：25Hz仕様

 InGaAs近赤外線カメラ

  波長領域 ： 0.9-1.7μm
  カメラコントロール   USB2.0
  画像取得   CameraLink
  ADC  

14bit
  冷却   ペルチェ1段/3段
  オプション    
  →仕様表へ 

 Xeva-CL-1.7-640 (90Hz)

 最大fps:90Hz仕様

 InGaAs近赤外線カメラ

  波長領域 ： 0.9-1.7μm
  カメラコントロール   USB2.0
  画像取得   CameraLink
  ADC  

14bit
  冷却   ペルチェ１段/3段
  オプション    
  →仕様表へ 

 

 

XEVA-1.7-640 シリーズ
XEVA-1.7-640シリーズは0.9-1.7μmに感度のあるXenics社InGaAs近赤外冷却カメラ(640×512画素)です。
●優れた冷却機能を持ちます。ペルチェ冷却(TE1/TE3)＋強制空冷
（TE1： <263K ／ TE3： <223K）
●検出波長領域：0.9～1.7μm
●Pixel operability >99% （画素欠陥率 <1%）
製品に関してのお問い合わせ
弊社では、各製品のカタログや資料をご用意しております。
デモ機在庫の有る製品も御座いますので、不明な点や価格的なご質問と共にお問い合わせよりご連絡下さい。
現在お客様の方で考えられているご使用目的、必要スペック、PC環境等を合わせてご連絡頂ければ該当する商品担当者よりご提案させて頂きます。 (お探しの商品が見付からない場合はお気軽にお問い合わせ下さい。)