Ex-situ リフトアウト

透過型電子顕微鏡（TEM）では、試料の準備が必須条件ですが、時間とコストがかかります。
ラメラをTEMグリッドに移す手順は、集束イオンビーム（FIB）の外で、光学顕微鏡と安定性の高い精密なマイクロマニピュレーターを利用することで、より速く行うことができます。
これにより、試料作成に要する時間を短縮し、高価なFIBの使用を節約することができます。