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クライオSEMシステム

クライオSEMシステム[FE-SEM/FIB/SEM]

■クライオSEMが必要なわけ・・・
　走査型電子顕微鏡（SEM）で、含水試料や電子ビームに弱い試料を観察するためにクライオSEM法は最適な手法です。従来の臨界点乾燥法などと比較し、より自然に近い状態で試料を観察することができます。
 
■従来の「含水試料」前処理の限界

　・収縮、歪み、変形、溶液の溶出

　・機械的損傷　-脆い試料は従来の手法で前処理をすると簡単に壊れてしまう

　・生体試料処理には毒性の試薬が固定液や緩衝液として使用される

　・長い処理時間
 
■クライオSEMの利点

　・含水試料や電子ビームに弱い試料の観察、加工

　・ほとんど機械的な損傷がない

　・経時変化観察に理想的（繰り返し凍結）

　・高分解能（低真空SEMと比較）

　・低温割断による情報の増加

　・迅速な試料前処理（通常5～10分）

 

●簡単操作、オート制御
●最大-190℃まで冷却
●優れた温度安定性
●視認性の良いﾌﾟﾘﾊﾟﾚｰｼｮﾝﾁｬﾝﾊﾞｰ
●長時間の連続運転が可能
　
●真空や不活性ガス雰囲気下で試料をトランスファー
●市販のSEMやFIB、グラオーブボックス、ビームライン装置などさまざまな装置にレトロフィット
●PP3006へのアップグレードが可
●ドローアウト仕様
●液体窒素による低温窒素ガス冷却方式
●長時間の運転が可能
●冷却トラップ付属
　
●迅速な試料交換
●最低温度 -190℃
（温度安定性 0.5℃以内）
●Offカラム冷却タイプで持続可
●試料急速冷却オプション
　
製品に関してのお問い合わせ
弊社では、各製品のカタログや資料をご用意しております。
デモ機在庫の有る製品も御座いますので、不明な点や価格的なご質問と共にお問い合わせよりご連絡下さい。
現在お客様の方で考えられているご使用目的、必要スペック、PC環境等を合わせてご連絡頂ければ該当する商品担当者よりご提案させて頂きます。 (お探しの商品が見付からない場合はお気軽にお問い合わせ下さい。)